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APPAREIL D’ANALYSE XRF RAPIDE ET AUTOMATISÉE

Revêtements métalliques

Série FT200

Appareils de mesure XRF des revêtements métalliques conçu pour simplifier et accélérer les tests de composants et d’assemblages avec une analyse rapide et automatisée

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POURQUOI CHOISIR UN MODELE FT200 ?

Les analyseurs XRF de la série FT200 ont été conçus pour réduire considérablement le temps nécessaire pour effectuer une mesure. Conscients que la préparation de l’échantillon et la sélection de la recette de mesure prennent le plus de temps, les ingénieurs d’HITACHI ont créé une série d’analyseurs avec des fonctions avancées d’automatisation qui permettent d’analyser beaucoup plus de pièces au cours d’une seule session de travail.
Les analyseurs FT210 et FT230 se distinguent par leur automatisation et leur logiciel innovant. Grâce à la fonction de reconnaissance intelligente Find My Part™, l’opérateur n’a plus qu’à positionner l’échantillon, lancer la mesure et l’instrument s’occupe du reste. Il reconnaîtra la pièce sur le plateau, sélectionnera le bon programme d’analyse et contrôlera les zones de mesure préalablement définies sur une pièce témoin. Find My Part™ permet de réduire jusqu’à 72% le temps d’un contrôle classique.

PRINCIPALES CARACTÉRISTIQUES

Conçue pour simplifier et accélérer les tests de composants et d’assemblages, la série FT200 d’Hitachi permet de mesurer plus de pièces en moins de temps grâce aux fonctionnalités suivantes :

    • Caméra wide-view. Bien que la caméra de base des analyseurs XRF soit très utile pour effectuer des réglages précis, il peut parfois être difficile de naviguer sur une pièce de grande dimension. La caméra wide-view de la série FT200 montre à l’opérateur l’ensemble du plateau de mesure lui permettant ainsi de se déplacer rapidement sur la zone à contrôler. Le temps de réglage est ainsi réduit d’environ 20%.
    • Approche et focalisation automatisées (Auto-approach et Autofocus). Elles réduisent le temps de chargement des échantillons de 33%.
    • Reconnaissance intelligente avec Find My Part™. Cette fonction sélectionne automatiquement les caractéristiques à mesurer et les routines d’analyse afin que l’opérateur passe moins de temps à utiliser l’appareil de mesure XRF et plus de temps à exploiter les résultats. Find My Part™ permet de réduire jusqu’à 72% le temps d’un contrôle classique.
    • Nouveau logiciel FT Connect. Il donne la priorité à la vue de l’échantillon et à la présentation claire des résultats d’analyse. Il est intuitif et facile à utiliser par des non-spécialistes grâce à une nouvelle interface utilisateur.
    • Diagnostics d’autocontrôle pour confirmer la santé et la stabilité de l’instrument.
    • Intégration parfaite à d’autres logiciels et exportation facile des données.
    • Durable pour une longue durée de vie dans un environnement de production ou de laboratoire difficile
    • Conforme aux normes ASTM B568, DIN ISO 3497 et NFC74-100
    • Permet de répondre aux spécifications ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), Sn en immersion (IPC-4554) et Ag en immersion (IPC-4553A).
    • [FT230] Un détecteur à dérive en silicium (SDD) à grande surface et haute résolution pour une grande précision sur les revêtements les plus fins et les plus complexes.

 

Spécifications Techniques

Modèle
FT210
FT230
Tube à rayons X
En Tungsten (maximum 50 kV, 1000 μA, 50 W)
En Tungsten (maximum 50 kV, 1000 μA, 50 W)
Gamme d'éléments
Ti (22) - U (92)
Al (13) - U (92)
Détecteur
Proportionnel
Détecteur de dérive au silicium (SDD)
Conception de la chambre
Semi-ouverte ou fermée
Semi-ouverte ou fermée
Conception de l'étage XY
Motorisée ou fixe
Motorisée ou fixe
Déplacement de la platine XY
250 x 200 mm
250 x 200 mm
Course motorisée de l'axe Z
205 mm
205 mm
La plus grande taille d'échantillon
500 x 400 x 150 mm
500 x 400 x 150 mm
Nombre de collimateurs
4
4
Laser de focalisation
Inclus
Inclus
Focalisation automatique
Option
Option
Caméra grand champ
Option
Option
Reconnaissance intelligent Find My Part™
Option
Option
Test RoHS
N/A
Inclus
Logiciel
FT Connect
FT Connect

La méthode est en constante amélioration, les spécifications sont donc susceptibles de changer sans avertissement préalable

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