ANALYSE D'EPAISSEUR PAR FLUORESCENCE X (XRF)

Fluorescence X (XRF)

L’analyse de l’épaisseur des revêtements et l’analyse des matériaux par fluorescence X (XRF) est une technique de mesure largement adoptée et reconnue par l’industrie. Facile à utiliser, rapide et non destructive, elle ne nécessite que peu ou pas de préparation de l’échantillon et permet d’analyser des solides ou des liquides sur une large gamme d’éléments du tableau périodique à un niveau de résolution spatiale de l’ordre du µm.

X-STRATA920

Le X-Strata920 a été conçu pour mesurer les revêtements monocouches et multicouches – y compris les couches d’alliages – pour les industries de l’électronique et de la métallurgie (traitement de surface).

Il offre une solution de haute technologie et un large éventail d’applications pour l’analyse de l’épaisseur de revêtements et d’échantillons de formes et de tailles très variées.

Avec le X-Strata920, quatre platines de mesure différentes sont disponibles pour permettre de manipuler des pièces de toutes formes et toutes tailles. La platine à fente fixe (standard ou large) convient aussi bien aux petites pièces qu’aux échantillons longs et fins comme les grandes cartes de circuits imprimés. La platine Mini-well vous offre la flexibilité nécessaire pour mesurer des pièces plus grandes. Enfin, la platine motorisée programmable est idéale pour mesurer automatiquement plusieurs échantillons ou plusieurs endroits sur un même échantillon.