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défauts sur carte électronique thermoconcept lite

Système LITe – renforcement de l’équipe Thermoconcept

29 mars 2017

Thermoconcept renforce son équipe autour du système LITe pour la détection de défauts et vous propose de tester gratuitement cette solution sur des défauts sur carte électronique et composants électroniques. 

Le système LITe est une adaptation de la méthode Lock-in appliquée aux cartes électroniques et permet de détecter rapidement les composants présentant un défaut. Cette nouvelle application de la méthode Lock-in permet d’obtenir des résultats plus précis que les méthodes traditionnelles. Ainsi, la méthode Lock-in augmente significativement la détectabilité des systèmes de thermographie infrarouge en atteignant des sensibilités thermiques de l’ordre de 6 mK.  La résolution spatiale est augmentée, en raison de la réduction de la longueur de diffusion thermique. L’amélioration la plus importante réside dans le fait de s’affranchir totalement des problèmes d’émissivité qui sont très présents sur les cartes électroniques.

L’analyse des cartes électroniques est réalisée grâce à une configuration réduite : une caméra infrarouge, refroidie ou non, un générateur de signal, une alimentation électrique et un logiciel de traitement. Sur les images ci-dessous, il est très aisé de constater que la méthode Lock-in permet d’affiner les résultats, avec une différence mesurée de 6mK.

système lite défauts sur carte électronique

Une chargée d’affaires spécialisée dans le produit LITe vient renforcer depuis peu l’équipe THERMOCONCEPT. Cela nous donne l’occasion de proposer à nos clients des ESSAIS GRATUITS sur des cartes électroniques, afin de leur présenter les performances du système LITe.

Si vous souhaitez tester gratuitement le système LITe sur vos composants électroniques, ou si vous souhaitez plus d’informations sur ce produit, n’hésitez pas à nous contacter.